Testery współczynnika błędu bitowego

• Używana jednostka odzyskiwania zegara Tektronix CR 125 A

  Wiele co Zaawansowana architektura BERTScope serii CR mierzy i wyświetla odpowiedź częstotliwościową PLL od 100 kHz do 12 MHz; najwyższa dostępna na rynku przepustowość pętli do testowania...

• Używane BERTScope SyntheSys Research BSA 12500 B

  BERTScope pobiera próbki danych i umożliwia łatwą izolację problematycznych sekwencji bitów i wzorców. Siedem rodzajów zaawansowanej analizy błędów jest wbudowanych w jedno niezawodne rozwiązanie...

• Używane SyntheSys Research BERTSCOPE CR

  Inżynierowie projektujący i testujący mogą znaleźć i zablokować sygnały o nieokreślonej lub nieznanej szybkości przesyłania danych. Inżynier może odzyskać zegary o pełnej prędkości, w tym zegary o...

• Używany analizator błędów Agilent 86130 A

  Uzupełnienie 86100 Infiniium DCA, 86130 A zapewnia nowy poziom wglądu w zestaw narzędzi do testowania. Wydajne analizy, łatwe ustawienie i obsługa w połączeniu z małym, rozszerzalnym pakietem...

• Używany seryjny BERT Agilent N 4903 A

  Drugie wyjście danych z niezależną pamięcią wzorców i PRBS może być użyte jako kanał agresora do testów przesłuchu lub podczas dodawania kanałów zewnętrznie do testów synchronizacji OOB lub...

• Używany generator wzorów impulsów Anritsu MP1763C

  W miarę jak nowe standardy są ustalane, istnieje potrzeba, aby móc wspierać ocenę urządzeń i obwodów przy tych wyższych szybkościach transmisji bitów. Na tym późnym etapie, Anritsu MP1763C może...

• Używany generator impulsów Anritsu MP 1763 B

  Pseudolosowy wzorzec serii M reprezentujący rzeczywiste warunki lub programowalny wzorzec można wybrać jako dane komórki. Anritsu MP 1763 B jest zwykle używany w połączeniu z Anritsu MP 1764 A...